8月18日，为期三天的2016深圳物联网展在深圳会展中心召开，奥地利CISC半导体在本次展会上亮相，展出了其最新的符合RAIN RFID标准的Xplorer UHF RFID读写器测试仪及标签仿真器，不论在读写器性能层面还是在协议物理层面都能给出中肯而准确的测试结果，获得了广大客户的好评。

　　同时，在展会现场还展出了高精度、便携可靠的UHF标签性能、规范性测试系统，其中方向性测试的演示也引起来往观众纷纷的关注。此次除了展出UHF的产品还展出了NFC相关的测试设备，其中覆盖了NFC标签性能、规范性及NFC设备互操作性测试等的实物及视频演示。

　　在19日RFID应用创新大会上，CISC针对如何通过正确的测试保证RFID/NFC标签及读写器的品质进行了深入的演讲，带给现场客户更广阔的测试思路和更先进的测量方法，获得现场观众的整整掌声。